膜厚计的校正

以美国狄夫斯高膜厚计而言，校正的原理及方式很简单。

膜厚计的测头就像磁铁一样，将测头在待测材料的素材【尚未有任何涂装或电镀的裸材】上测量，此时，膜厚计会感测到此材料的 大磁吸力；当我们将标准校正膜片放在素材上【就如同涂上一层己知厚度的涂装层】，我们再用测头在上面量测时，膜厚计会得到一个相对较小的磁吸力【因为，测头与素材间多了一道膜厚片的距离，因此，磁吸力会变小】，如此，越厚的标准片会测得相对越小的磁吸力。我们只要将其相对的实际厚度值，如：0um、12um、50um、100um等相对的值输入给膜厚计，膜厚计透过回归计算后即会将此检量曲线建立在记忆体中，当我们测量未知膜厚的工作物时，测头感应到某个磁吸力后，以内插法的方式，膜厚计即可显示出其测得的膜厚值了。

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